Delphi-X Observer metallografico

OCULARI
• Oculari SWF 10x / 25mm con campo super amplio, tubi Ø 30 mm
• Oculari 10x/22 mm, tubi Ø 30 mm (opzionali) TESTATA STANDARD Siedentopf trinoculare con tubi inclinati a 30°. Distanza interpupillare tra
47 e 78 mm. Regolazione diottrica ± 5 su entrabi i tubi. Divisore con 3 posizioni (0:100/ 100:0/ 80:20)

TESTATA ERGONOMICA
Su richiesta è disponibile la testata trinoculare ergonomica da 0 a 35 ° fornita con oculari SWF 10x / 25 mm, distanza interpupillare tra 47-78 mm e tubo fotografico Ø 23,2 mm. La testata ergonomica trinoculare ha un selettore di percorso ottico (100: 0 / 80:20 / 0: 100). Diottrie ± 5 regolazioni su entrambi gli oculari

REVOLVER
Revolver orientato verso l’interno per 6 obiettivi su cuscinetti a sfera,
con filettatura di montaggio da 25 mm

SISTEMA INFINITO POTENZIATO (EIS)
Il sistema Infinity potenziato (EIS) del Delphi-X Observer ™ è costituito da oculari SFWF Super wide field da 10x25 mm, obiettivi parafocali da 45 mm con apertura numerica elevata e un tubo ottico da 200 mm. La lente a tubo focale da 200 mm riduce l’angolo dei raggi di luce che passano l’ottica e come risultato diretto migliora sensibilmente le correzioni e il contrasto dell’aberrazione cromatica. Gli obiettivi con diametro maggiore consentono aperture numeriche molto più elevate che migliorano la potenza risolutiva complessiva del sistema ottico.

Per tutti questi motivi, Delphi-X Obsever ™ offre prestazioni ottiche superiori per le applicazioni più esigenti

OBIETTIVI
I seguenti obiettivi EIS corretti all’infinito sono forniti o disponibili per Delphi-X Observer ™:

* Opzionale 
Tutti gli obiettivi sono parafocali da 45 mm e hanno una filettatura di montaggio M25 mm. Tutte le ottiche sono trattate per prevenire la creazione di funghi e con un rivestimento anti-riflesso per permettere il maggior passaggio di luce

TAVOLINO
• Ampio tavolino 215 x 170 mm con traslatore integrato destro da 105 x 105 mm
• L’altezza dello stage può essere abbassata per campioni di grandi dimensioni (le dimensioni standard di un campione vanno da 1 a 28 mm, dimensioni consentite del campione fino a 55 mm)

Per l’ergonomia dell’utente, l’altezza del tavolino può essere abbassata di un pollice mantenendo l’altezza standard del campione, utilizzando l’accessorio di abbassamento opzionale (DX.9887)

Accessorio per l’abbassamento del revolver
L’accessorio per l’abbassamento del revolver abbassa l’altezza del revolver di 40 mm e consente di utilizzare il tavolino anche nella posizione piú bassa di 40 mm (DX.9887)

Accessorio per alzare la testata
L’accessorio per alzare la testata può aumentare l’altezza del punto di vista di 2,54 mm (DX.9885)

MESSA A FUOCO
Messa a fuoco macro e micrometrica, 100 gradazioni, 1 µm di precisione, 100 μm per rotazione, la portata totale è di circa 35 mm. Dotato di altezza massima regolabile per prevenire danni al campione o agli obiettivi. La regolazione macrometrica è dotata di controllo della tensione. Le manopole di messa a fuoco possono essere commutate da sinistra a destra in base alle preferenze dell’utente

CONDENSATORE CON LUNGA DISTANZA DI LAVORO
Condensatore regolabile in altezza con lunga distanza di lavoro A.N. 0.65 (10.2 mm) con segni di identificazione dell’apertura numerica che consentono una facile impostazione

ILLUMINAZIONE
Il microscopio Delphi-X Observer metallografico è dotato di illuminazione Episcopica e Diascopica con intensitá regolabile da 100 W alogene con alimentatore interno da 100-240 V. L’illuminazione alogena diascopica viene fornita con due filtri a densità neutra push-in / push-out per un’attenuazione uniforme dell’intensità luminosa per tutti i tipi di campioni. L’illuminazione diascopica NeoLED ™ viene fornita con un filtro a densità neutra

Il microscopio viene fornito di serie con un analizzatore e un polarizzatore che può essere facilmente inserito negli slot liberi nell’Epi-Illuminator per immagini polarizzate di alta qualità. Inoltre, una torretta rotante è implementata per cambiare rapidamente tra campo scuso, campo chiaro e campo chiaro oscurato

NORMARSKI DIC (opzionale)
Con la riprogettazione del modulo DIC, la visualizzazione delle differenze di altezza che normalmente non possono essere visualizzate usando le tecniche di campo chiaro è notevolmente migliorata. Queste immagini in rilievo sono ideali per ispezioni superficiali di wafer, schermi LCD ecc.

(foto: Revolver con ranura per lamina Normarski DIC)

ICARE SENSOR
Il sensore iCare è stato disegnato per evitare inutili perdite di energia. L’illuminazione del microscopio si spegne automaticamente poco dopo che il microscopista si sia allontanato dalla sua posizione

MANIGLIA PER IL TRASPORTO
La maniglia di trasporto sul retro del microscopio garantisce un trasporto sicuro del microscopio e l’utensile e il supporto integrati assicurano che lo strumento giusto sia sempre disponibile

IMBALLAGGIO
Fornito con cavo di alimentazione, fodera antipolvere , fusibile di ricambio, manuale utente e brugola universale. Il tutto imballato in una scatola di polistirolo